이 단계별 가이드는 다음을 포함한 사전 적합성 테스트 프로세스 전반에 걸쳐 RIGOL의 EMI 측정 애플리케이션 사용을 탐색합니다.

• TEM 셀을 사용한 방사 테스트 설정
• 추적 및 감지기 설정
• 스캔 구성
• 피크 식별
• 선 및 여백 제한
• 대화형 측정
• 제품 버전 비교
• 테스트 자동화
• 테스트 설정 저장 및 사용
• 보고서 생성

TEM 셀을 사용한 방사 테스트 설정

TEM Cell은 Near Field Probe가 반복 가능한 데이터를 충분히 제공하지 않지만 전체 챔버가 불필요하거나 비용이 많이 드는 일부 사전 적합성 테스트에 대한 훌륭한 옵션입니다.

EMI 측정을 통한 단계별 가이드에 사용할 테스트 설정을 살펴보십시오.

Near Field Probe

Near Field Probe는 EMI 문제 해결을 위한 간단한 설정을 제공합니다. RIGOL의 NFP-3 프로브는 방출 디버깅을 위해 3GHz까지 작동합니다.

사전 규정 준수를 위한 중요한 첫 번째 단계는 시작할 감지기를 선택하는 것입니다. 다른 감지기는 스위프 속도를 제한하고 결과의 의미를 변경할 수 있습니다. 감지기 및 추적을 설정하는 방법을 알아보세요.

EMI 모드에서 다음 CISPR 감지기 중에서 선택합니다.

• 피크(포지션 또는 네거티브)
• 준첨두
• CISPR 평균
• RMS 평균
• 평균

각 범위에 대한 독립적인 설정이 포함된 내장형 스캔 테이블을 통해 한 화면에서 여러 검출기로 복잡한 스캔을 쉽게 구성할 수 있습니다.

한계선에 대해 완료된 스캔의 데이터를 분석하고 피크를 검색합니다. 추가 검사를 위해 이러한 신호를 자동으로 분리합니다.

사용하기 쉬운 검색 결과 테이블에서 신호 사이를 이동합니다.

내장된 한계 라인에 액세스하거나 맞춤형 테스트를 위해 직접 구성하십시오. 관심 신호를 검색하거나 여러 검출기를 사용하여 대화형 측정을 할 때 한계와 마진을 사용하십시오.

EMI 모드는 전도 방출을 스캔하는 데에도 사용할 수 있습니다. 전력선에 주입되는 방출을 보려면 LISN 또는 RF 프로브가 필요합니다. RF 프로브를 사용하여 이 비디오를 확인하십시오.

EMI 모드는 여러 검출기에 대한 마커 또는 신호의 실시간 측정을 보여줌과 동시에 비교 및 분석을 단순화합니다.

강력한 실시간 분석 기능 모드를 사용하여 복잡한 복사 방출 문제를 디버그합니다.

사전 적합성 테스트는 단순히 배출량을 기록하는 것 이상입니다. EMI 애플리케이션을 사용하여 보드 개정판을 비교하여 출시가 가까워짐에 따라 제품이 규정 준수에 가까워지고 있는지 확인하십시오.

프로세스를 자동화하여 EMI 측정을 더 간단하고 빠르게 만듭니다. 스캔, 검색 및 대화형 측정을 결합합니다. 또한 엔지니어가 방출 및 신호의 고급 디버깅에 사용하는 것과 동일한 장비의 단일 버튼으로 관심 신호에 대한 추가 분석을 수행합니다.

상대 측정은 EMI에서 매우 중요합니다.

• 좋은 보드는 실패한 보드와 어떻게 비교됩니까?
• 이것은 CISPR Average 검출기 또는 다른 한계선에 대해 어떻게 보입니까?
• 그것은 장치에서 오는 것입니까, 아니면 환경에서 오는 것입니까?

비교 및 데이터 기록을 위한 전체 테스트 설정을 생성, 구성 및 여는 방법을 알아보세요. 설정에는 데이터 추적 및 기기 구성 세부 정보가 포함될 수 있습니다.

TEM Cell은 감수성 또는 면역 테스트에도 사용할 수 있습니다. 배출 중 기능 테스트는 간단한 검증 단계입니다. 다음은 DSG800 신호 소스와 MSO7000 오실로스코프를 사용한 예입니다.

테스트 및 디버깅이 완료되면 EMI 측정 애플리케이션을 사용하여 메모, 스크린샷 및 데이터가 포함된 완전한 테스트 보고서를 생성합니다.

일관성과 생산성을 위해 하나의 플랫폼에서 테스트, 디버그 및 보고를 모두 통합합니다.

EMI 모드가 테스트 아카이브에 대한 html 및 pdf 보고서를 생성하는 것을 지켜보십시오.

RSA3000 Series

1.5GHz-4.5GHz

RSA5000 Series

3.2GHz-6.5GHz