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[지터·신호 품질 가이드] 전체 목차 — 클록 복구·아이 다이어그램·지터 분해 3편 Leave a comment
지터·신호 품질 가이드 (전체 3편)
고속 직렬 신호를 오실로스코프로 분석할 때 가장 먼저 필요한 클록 복구부터, 눈 다이어그램, 지터 분해까지. RIGOL 응용 가이드 3종을 한국어로 옮기고 읽기 쉽게 정리한 시리즈입니다.
전체 목차
아래 카드를 누르면 해당 편으로 이동합니다. 각 편 위아래에도 같은 목차 바가 있어서 언제든 다른 편으로 오갈 수 있습니다.
1편
클록 복구 — 지터·눈 다이어그램의 출발점
고속 직렬 신호에서 클록을 복구하는 3가지 방식(상수·PLL·외부)과 신호 유형·임계값·히스테리시스 설정.
- NRZ/PAM3/PAM4 신호 유형
- 임계값 5가지 방식과 레벨 설정
- 1·2·3차 PLL, JTF/OJTF
- 외부 클록과 클록 스큐
이 편 읽으러 가기 →읽는 시간 약 15분
2편눈 다이어그램(Eye) — 신호 품질을 한눈에
복구 클록으로 눈 다이어그램을 그리는 원리, 측정 항목, 마스크 시험과 대표 시나리오.
- 눈 폭·눈 높이·교차비·Q 인자
- 히스토그램과 커서 측정
- 표준·사용자 마스크 Pass/Fail
- 클록·NRZ·PAM3 측정 예
이 편 읽으러 가기 →읽는 시간 약 13분
3편지터 분해 — TJ를 RJ·DJ로 나누기
총 지터를 랜덤·결정론적 성분으로 분해하는 이중 디랙 모델과 설정, 그림 표시와 측정 예.
- TIE와 이중 디랙 모델
- DDJ·PJ·RJ 분리 알고리즘
- 주기/비주기 모드, BER 설정
- 클록·NRZ·PAM4 측정 예
이 편 읽으러 가기 →읽는 시간 약 18분
이런 순서로 읽어 보세요
| 이런 분이라면 | 추천 순서 |
|---|---|
| 고속 신호 분석이 처음인 분 | 1편 → 2편 → 3편 순서대로 |
| 눈 다이어그램 마스크 시험만 필요한 분 | 1편(클록 복구 설정) → 2편 |
| 지터 원인을 분석하는 분 | 1편 → 3편 |
핵심 용어 한눈에 보기
| 용어 | 뜻 | 자세히 |
|---|---|---|
| CDR / 클록 복구 | 직렬 데이터에서 클록을 추출해 샘플링 기준으로 삼는 기술 | 1편 |
| 히스테리시스 | 노이즈가 에지로 오판되지 않게 두는 전압 완충 대역 | 1편 |
| PLL | 데이터 위상·주파수를 동적으로 추적하는 클록 복구 방식 | 1편 |
| 눈 높이·눈 폭 | 눈 다이어그램에서 판정 여유를 나타내는 세로·가로 열림 크기 | 2편 |
| TIE | 각 에지가 이상적 위치에서 벗어난 시간 오차 | 3편 |
| RJ / DJ | 랜덤 지터(가우시안) / 결정론적 지터(PJ, DDJ, DCD 등) | 3편 |
| BER 배스터브 | BER에 따른 지터 여유를 그린 곡선 | 3편 |
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본 시리즈는 RIGOL 응용 가이드 3종을 한국어로 옮기고 읽기 쉽게 재구성한 것입니다.
