[고속 인터페이스 적합성 가이드 8/8] 2.5G/5G/10GBASE-T 이더넷 ③ 5G·2.5GBASE-T 시험 항목 Leave a comment

고속 인터페이스 적합성 가이드12345678

문서 정보 — RIGOL 응용 가이드 「2.5G/5G/10GBASE-T 이더넷 적합성 시험 솔루션」을 3편으로 나눈 글 중 마지막으로, 5GBASE-T(Clause 126) 와 2.5GBASE-T 시험을 다룹니다. 원문은 10GBASE-T와 같은 절차를 속도별 값으로 반복하는 구조라, 이 글은 속도별 기준값을 표로 비교하는 방식으로 정리했습니다. 이 글에는 원문의 해당 절 그림을 넣지 않았으니, 화면과 연결 그림은 6편과 7편을 참고하세요. 전체를 읽는 데는 약 10분이 걸립니다.

이 글에서 다루는 내용

  • 5GBASE-T(8개 항목)와 2.5GBASE-T(9개 항목, 비선형성 추가)의 합격 기준
  • 속도별 시험 모드 값(심볼 속도, 방형파 주파수)과 계산식
  • 5G/2.5G에서 달라지는 소프트웨어 설정(프로토콜 NBase-T/MGBase-T)

시험 항목 비교

항목 10GBASE-T 5GBASE-T 2.5GBASE-T
규격 조항 Clause 55 Clause 126 Clause 126
소프트웨어 프로토콜 IEEE NBase-T 또는 MGBase-T NBase-T 또는 MGBase-T
심볼 속도(시험 모드 신호) 800 Mbps 400 Mbps 200 Mbps
출력 드룹 90 ns 시점, 10 % 미만, 3.125 MHz 방형파 170 ns 시점, 12.5 % 미만, 6.25 MHz 방형파 330 ns 시점, 10 % 미만, 12.5 MHz 방형파
클록 주파수 200 MHz ± 50 ppm 100 MHz ± 50 ppm(심볼 400 MHz) 50 MHz ± 50 ppm(심볼 200 MHz)
마스터 지터 1 ms, 200 MHz 중심, RMS < 5.5 ps 2 ms, 100 MHz 중심, RMS < 7.2 ps 4 ms, 50 MHz 중심, RMS < 10 ps
슬레이브 지터(Pair D만) RMS < 5.5 ps RMS < 7.2 ps RMS < 10 ps
파워 레벨 3.2~5.0 dBm 1.0~3.0 dBm 1.0~3.0 dBm
선형성 SFDR 대역 1~400 MHz 1~200 MHz 1~100 MHz
비선형성 — — 있음(기준 −5.5 dB)
반사 손실 f<sub>max</sub> 500 MHz 250 MHz 125 MHz

5GBASE-T (Clause 126)

5GBASE-T 시험 항목은 다음 8가지입니다.

No. 시험 항목 규격 조항 지그
1 Maximum output droop 126.5.3.1 TC1
2 Transmit clock frequency 126.5.3.5 TC1
3 Transmitter timing jitter master 126.5.3.3 TC1
4 Transmitter timing jitter slave 126.5.3.3 TC2
5 Transmitter power spectral density 126.5.3.4 TC1
6 Transmitter power level 126.5.3.4 TC1
7 Transmitter linearity 126.5.3.2 TC1 또는 반사 손실 지그
8 MDI return loss 126.8.2.1 반사 손실 지그

공통 절차 — 7편과 같고 “시험 설정”에서 NBase-T 또는 MGBase-T 프로토콜과 5 Gbps 속도를 고릅니다.

  • 출력 드룹: Test Mode 6에서 영점 통과 후 10 ns 시점의 V10과 170 ns 시점의 V170으로 Droop = (V10 − V170)/V10을 계산하며 12.5 % 미만이어야 합니다. 참조 파형은 400 Mbps로 +16 값 128개와 −16 값 128개를 번갈아 출력하는 6.25 MHz 방형파입니다.
  • 클록 주파수: Test Mode 2에서 100 MHz ± 50 ppm(심볼 속도 400 MHz ± 50 ppm). 참조 파형은 +16 값 2개와 −16 값 2개를 번갈아 출력하는 100 MHz 방형파입니다.
  • 마스터 지터: Test Mode 2에서 2 ms ± 10 % 파형을 측정하고 100 MHz 중심, 2 MHz 대역폭 대역 통과 필터를 적용한 뒤 주기 지터 RMS가 7.2 ps 미만이어야 합니다.
  • 슬레이브 지터: DUT는 Test Mode 3, 파트너는 Test Mode 1이며 Pair D에 대해서만 시험합니다. RMS < 7.2 ps. (원문은 이 절에서 필터 중심 주파수를 200 MHz로 적었으나 앞의 마스터 지터와 같은 100 MHz로 보이므로 규격 확인이 필요합니다.)
  • PSD: Test Mode 5, 10GBASE-T와 같은 형태의 마스크이되 S = 1을 대입합니다(상한은 PSD1(f)와 Equation 55-9 − 6 dB 중 큰 값, 하한은 −82.2 dBm/Hz 기준). 참조 파형은 400 Mbps 의사 난수 PAM16 신호입니다.
  • 파워 레벨: Test Mode 5, 1.0 dBm < power level < 3.0 dBm.
  • 선형성: Test Mode 4, 1~200 MHz 대역, 기준식은 10GBASE-T와 같습니다(SFDR ≥ 2.5 + min{52, 58 − 20·log₁₀(f/25)}). 400 Mbps로 5쌍의 2톤 신호를 출력합니다.
송신 주파수 주파수 쌍 (MHz) 한계 (dBc)
DT1 18.359 & 20.703 ≥ 54.5
DT2 39.453 & 40.2345 ≥ 54.5
DT3 69.922 & 70.703 ≥ 51.47
DT4 108.203 & 109.7655 ≥ 47.649
DT5 155.078 & 156.6405 ≥ 44.561
  • 반사 손실: Test Mode 5, 16 dB (1~40 MHz), 16 − 10·log₁₀(f/40) dB (40 MHz < f ≤ 250 MHz). VNA 교정 후 시험하는 절차는 10GBASE-T와 같습니다.

2.5GBASE-T (Clause 126)

2.5GBASE-T 시험 항목은 5GBASE-T의 8가지에 비선형성이 추가된 9가지입니다. 소프트웨어에서는 NBase-T 또는 MGBase-T 프로토콜과 2.5 Gbps 속도를 고릅니다.

  • 출력 드룹: Test Mode 6, 영점 통과 후 10 ns의 V10과 330 ns의 V330으로 Droop = (V10 − V330)/V10이 10 % 미만. 참조 파형은 200 Mbps로 +16 값 128개와 −16 값 128개를 번갈아 출력하는 12.5 MHz 방형파입니다.
  • 클록 주파수: Test Mode 2, 50 MHz ± 50 ppm(심볼 200 MHz ± 50 ppm), 50 MHz 방형파.
  • 마스터 지터: Test Mode 2, 4 ms ± 10 % 파형, 50 MHz 중심 2 MHz 대역폭 필터 적용 후 RMS < 10 ps.
  • 슬레이브 지터: DUT Test Mode 3, 파트너 Test Mode 1, Pair D만, RMS < 10 ps(필터 중심 50 MHz).
  • PSD: Test Mode 5, 5G와 같은 마스크식에 S = 0.5를 대입합니다. 참조 파형은 200 Mbps 의사 난수 PAM16 신호입니다.
  • 파워 레벨: Test Mode 5, 1.0 dBm < power level < 3.0 dBm.
  • 선형성: Test Mode 4, 1~100 MHz 대역, 200 Mbps로 5쌍의 2톤 신호.
송신 주파수 주파수 쌍 (MHz) 선형성 한계 (dBc) 비선형성 한계 (dBc)
DT1 9.1795 & 10.3515 ≥ 54.5 ≥ 47.5
DT2 19.7265 & 20.11725 ≥ 54.5 ≥ 47.5
DT3 34.961 & 35.3515 ≥ 54.5 ≥ 47.5
DT4 54.1015 & 54.88275 ≥ 53.67 ≥ 46.67
DT5 77.539 & 78.32025 ≥ 50.581 ≥ 43.581

비선형성 (2.5GBASE-T만)

시험 개요 — 규격 126.5.3.2, DUT는 Test Mode 4입니다. 선형성과 같은 2톤 분석을 하되 외부 간섭 신호(AWG의 45 MHz 정현파) 를 넣은 상태에서 1~100 MHz 대역의 최대 상호 변조 곱을 구하고, 아래 식을 만족해야 합니다.

SFDR ≥ −5.5 + min{ 52, 58 − 20 × log₁₀(f / 25) } (dB)

시험 절차(스펙트럼 분석기)

  1. “시험 설정”에서 NBase-T 또는 MGBase-T, 2.5 Gbps를 고르고, 선형성 시험 방법을 “스펙트럼 분석기” 로 하고 IP를 입력해 연결합니다. DG4000 같은 RIGOL AWG를 쓰면 AWG 유형을 DG 시리즈로 하고 IP를 입력해 연결합니다. 다른 신호 발생기를 쓰면 기타를 고르고 안내에 따라 직접 간섭 신호를 출력합니다.
  2. “시험 항목”에서 Transmitter Linear Tests – Two Tone Frequency Pair1~5를 선택합니다.
  3. “시험 실행”에서 연결도 안내(6편의 스펙트럼 분석기 + 파형 발생기 비선형성 연결)에 따라 연결합니다.
  4. 참조 파형을 확인하고 시험 시작을 누르면 옵션이 장비를 자동 설정해 시험하고 진행률을 갱신합니다.
  5. 결과를 보고 보고서를 내보냅니다.

오실로스코프로 하는 경우는 “오실로스코프와 파형 발생기로 하는 비선형성 연결”(6편)을 따릅니다.

반사 손실

Test Mode 5, 규격 126.8.2.1. 16 dB (1~40 MHz), 16 − 10·log₁₀(f/40) dB (40 MHz < f ≤ 125 MHz). 시험 설정에서 NBase-T 또는 MGBase-T, 2.5 Gbps를 고르고 VNA IP를 연결한 뒤 MDI Return Loss Test를 선택합니다. 시작 후 VNA의 개방/단락/부하 교정을 하고 DUT를 연결합니다.

정리

  • 5G/2.5GBASE-T는 10GBASE-T와 같은 항목을 심볼 속도에 맞춰 값을 바꿔 시험합니다. 프로토콜은 NBase-T 또는 MGBase-T입니다.
  • 5GBASE-T: 드룹 12.5 %, 클록 100 MHz, 지터 RMS 7.2 ps, 파워 1.0~3.0 dBm, 선형성 1~200 MHz, 반사 손실 f<sub>max</sub> 250 MHz.
  • 2.5GBASE-T: 드룹 10 %, 클록 50 MHz, 지터 RMS 10 ps, 선형성 1~100 MHz, 반사 손실 f<sub>max</sub> 125 MHz, 그리고 AWG 45 MHz 간섭을 넣는 비선형성 시험이 추가됩니다.
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본 글은 RIGOL 응용 가이드(RIGOL 응용 가이드 2.5G/5G/10GBASE-T 이더넷 적합성 시험)를 한국어로 옮기고 읽기 쉽게 재구성한 것입니다. 사양과 구성은 예고 없이 변경될 수 있습니다.

자주 묻는 질문 (FAQ)

5GBASE-T와 2.5GBASE-T는 10GBASE-T와 같은 항목을 어떻게 다르게 시험하나요?

심볼 속도(800→400→200 Mbps)와 그에 따른 방형파 주파수, 지터 RMS 기준(5.5→7.2→10 ps), 파워 레벨 범위 등 수치만 속도에 맞게 바뀔 뿐 시험 항목의 종류는 10GBASE-T와 거의 같습니다. 소프트웨어 프로토콜은 NBase-T 또는 MGBase-T를 선택합니다.

2.5GBASE-T만 추가로 시험하는 항목은 무엇인가요?

비선형성(nonlinearity) 시험이 추가되어 총 9가지 항목을 시험합니다. 이 시험에는 45 MHz AWG 간섭 신호를 추가로 사용합니다.

5GBASE-T의 클록 주파수와 마스터 지터 기준은 무엇인가요?

클록 주파수는 100 MHz ± 50 ppm(심볼 속도 기준 400 MHz), 마스터 지터는 2 ms 파형을 100 MHz 중심 필터로 걸러 계산한 RMS가 7.2 ps 미만이어야 합니다.

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